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光致發(fā)光光譜成像測(cè)量系統(tǒng) PMEye-3000
PMEye-3000光致發(fā)光光譜成像（PL-Mapping）測(cè)量系統(tǒng)是卓立漢光 新研制的，用于LED外延片、半導(dǎo)體晶片、太陽(yáng)能電池材料等，在生產(chǎn)線上的質(zhì)量控制和實(shí)驗(yàn)室中的產(chǎn)品研發(fā)檢測(cè)。該系統(tǒng)對(duì)樣品的PL譜進(jìn)行Mapping二維掃描成像，掃描結(jié)果以3D方式進(jìn)行顯示，使檢測(cè)結(jié)果更易于分析和比較。該系統(tǒng)的軟件窗口界面友好，操作簡(jiǎn)單，只需簡(jiǎn)單培訓(xùn)就能使用。
測(cè)試原理：
PL（光致發(fā)光）是一種輻射復(fù)合效應(yīng)。在一定波長(zhǎng)光源的激發(fā)下，電子吸收激發(fā)光子的能量，向高能級(jí)躍遷而處于激發(fā)態(tài)。激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的狀態(tài)，會(huì)以輻射復(fù)合的形式發(fā)射光子向低能級(jí)躍遷，這種被發(fā)射的光稱為熒光。熒光光譜代表了半導(dǎo)體材料內(nèi)部，一定的電子能級(jí)躍遷的機(jī)制，也反映了材料的性能及其缺陷。PL是一種用于提供半導(dǎo)體材料的電學(xué)、光學(xué)特性信息的光譜技術(shù)，可以研究帶隙、發(fā)光波長(zhǎng)、結(jié)晶度和晶體結(jié)構(gòu)以及缺陷信息等等。
光致發(fā)光光譜成像測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域舉例：
LED外延片，太陽(yáng)能電池材料，半導(dǎo)體晶片，半導(dǎo)體薄膜材料等檢測(cè)與研究。
| 主要特點(diǎn)： ◆ PLMapping測(cè)量 ◆ 多種激光器可選 ◆ Mapping掃描速度：180點(diǎn)/秒 ◆ 空間分辨率：50um ◆ 光譜分辨率：0.1nm@1200g/mm ◆ Mapping結(jié)果以3D方式顯示 ◆ 大8吋的樣品測(cè)量 ◆ 樣品定位 ◆ 樣品真空吸附 ◆ 可做低溫測(cè)量 ◆ 膜厚測(cè)量 |  |
一體化設(shè)計(jì)，操作符合人體工學(xué)
PMEye3000 PL Mapping測(cè)量系統(tǒng)采用立式一體化設(shè)計(jì)，關(guān)鍵尺寸根據(jù)人體工學(xué)理論設(shè)計(jì)，不管是樣品的操作高度和電腦使用高度，都特別適合于人員操作。主機(jī)與操作平臺(tái)高度集成，方便于在實(shí)驗(yàn)室和檢測(cè)車間里擺放。儀器側(cè)面設(shè)計(jì)有可收放平臺(tái)，可擺放液晶顯示器和鼠標(biāo)鍵盤。儀器底部裝有滾輪，方便于儀器在不同場(chǎng)地之間的搬動(dòng)。
模塊化設(shè)計(jì)
PMEye-3000 PL Mapping測(cè)量系統(tǒng)全面采用模塊化設(shè)計(jì)思想，可根據(jù)用戶的樣品特點(diǎn)來選擇規(guī)格配置，讓用戶有更多的選擇余地。激發(fā)光源、樣品臺(tái)、光譜儀、探測(cè)器、數(shù)據(jù)采集設(shè)備都實(shí)現(xiàn)了模塊化設(shè)計(jì)。
操作簡(jiǎn)便、全電腦控制
PMEye-3000 PL Mapping測(cè)量系統(tǒng)，采用整機(jī)設(shè)計(jì)，用戶只需要根據(jù)需要放置檢測(cè)樣品，無需進(jìn)行復(fù)雜的光路調(diào)整，操作簡(jiǎn)便；所有控制操作均通過計(jì)算機(jī)來控制實(shí)現(xiàn)。
全新的樣品臺(tái)設(shè)計(jì)，采用真空吸附方式對(duì)樣品進(jìn)行固定，避免了用傳統(tǒng)方式固定樣品而造成的損壞；可對(duì)常規(guī)尺寸的LED外延片樣品進(jìn)行定位，提高測(cè)量重復(fù)精度。
兩種測(cè)量方式,用途更廣泛
系統(tǒng)采用直流和交流兩種測(cè)量模式，直流模式用于常規(guī)檢測(cè)，交流模式用于微弱熒光檢測(cè)。
監(jiān)控激發(fā)光源,校正測(cè)量結(jié)果
一般的PL測(cè)量系統(tǒng)只是測(cè)量熒光的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，而沒有對(duì)激發(fā)光源進(jìn)行監(jiān)控，而激發(fā)光源的不穩(wěn)定性將會(huì)對(duì)PL測(cè)量結(jié)果造成影響。PMEye-3000 PL Mapping測(cè)量系統(tǒng)增加對(duì)激光強(qiáng)度的監(jiān)控，并根據(jù)監(jiān)控結(jié)果來對(duì)PL測(cè)量進(jìn)行校正。這樣就可以消除激發(fā)光源的不穩(wěn)定帶來的測(cè)量誤差。
激光器選配靈活
PMEye-3000 PL Mapping測(cè)量系統(tǒng)有多種高穩(wěn)定性的激光器可選，系統(tǒng) 多可內(nèi)置2個(gè)激光器和一個(gè)外接激光器，標(biāo)配為1個(gè)405nm波長(zhǎng)高穩(wěn)定激光器。用戶可以根據(jù)測(cè)量對(duì)象選配不同的激光器，使PL檢測(cè)更加精準(zhǔn)。
可選配的激光器波長(zhǎng)有： 405nm，442nm，532nm、785nm、808nm等，外置選配激光器波長(zhǎng)為：325nm。
自動(dòng)Mapping功能
PMEye-3000 PL Mapping測(cè)量系統(tǒng)配置200×200mm的二維電控位移臺(tái)， 大可測(cè)量8英寸的樣品。用戶可以根據(jù)不同的樣品規(guī)格來設(shè)置掃描區(qū)域、掃描步長(zhǎng)、掃描速度等，掃描速度可高達(dá)每秒180個(gè)點(diǎn)，空間分辨率可達(dá)50um。掃描結(jié)果以3D方式顯示，以不同的顏色來表示不同的熒光強(qiáng)度。
軟件功能豐富,操作簡(jiǎn)便
我們具有多年的測(cè)量系統(tǒng)操作軟件開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，,熟悉試驗(yàn)測(cè)量需求和用戶的操作習(xí)慣，從而使開發(fā)的這套PMEye-3000操作軟件功能強(qiáng)大且操作簡(jiǎn)便。
MEye-3000操作軟件提供單點(diǎn)PL光譜測(cè)量及顯示，單波長(zhǎng)的X-Y Mapping測(cè)量，給定光譜范圍的X-Y Mapping測(cè)量及根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行峰值波長(zhǎng)、峰值強(qiáng)度、半高寬、給定波長(zhǎng)范圍的熒光強(qiáng)度計(jì)算并以Mapping顯示，Mapping結(jié)果以3D方式顯示。同時(shí)具有多種數(shù)據(jù)處理方式來對(duì)所測(cè)量的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。 
低溫樣品室附件
該附件可實(shí)現(xiàn)樣品在低溫狀態(tài)下的熒光檢測(cè)。有些樣品在不同的溫度條件下，將呈現(xiàn)不同的熒光效果，這時(shí)就需要對(duì)樣品
進(jìn)行低溫制冷。
PMEye-3000主要功能和技術(shù)參數(shù)
● 激發(fā)光源：405nm低噪聲半導(dǎo)體激光器，功率：100mW（標(biāo)配）
● 光譜分辨率：0.1nm（@1200g/mm光柵）
● 光探測(cè)器：硅光電探測(cè)器，200-1100nm
● 數(shù)據(jù)采集器：DCS300PA（直流模式，標(biāo)配）；SR830鎖相放大器（交流模式，選配）
● 二維移動(dòng)樣品臺(tái)，行程200mm，重復(fù)定位精度 <3μm
● 樣品臺(tái)：可放置6”晶片，真空吸附
● 掃描速度：10,800點(diǎn)/s
● 掃描步長(zhǎng)： 小可達(dá)1.25μm
● 空間分辨率：<50μm
● 掃描模式：?jiǎn)吸c(diǎn)光譜掃描、單波長(zhǎng)mapping、峰值波長(zhǎng)mapping、峰值強(qiáng)度mapping等
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 網(wǎng)站地圖
