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平面材料漫反射率與透射率測(cè)量系統(tǒng)Omni-DR600
本系統(tǒng)結(jié)構(gòu)與Omni-DR300 相同，但系統(tǒng)測(cè)試光為由下至上8 度角聚焦光路，樣品盛放裝置為160x160mm 平臺(tái)，方便放置各類平面待測(cè)物，如各類功能性布料。同時(shí)，系統(tǒng)整合透過率測(cè)量探測(cè)器，可測(cè)量厚度為5mm 以下的各類透光材料，可將各類透光器件的漫反射率與透過率測(cè)量整合成一體。
■ 光譜測(cè)量范圍：350-2500nm
■ 光譜分辨率：2nm以下
■ 光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置
■ 波長準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm（近紅外區(qū)）
■ 光度測(cè)量準(zhǔn)確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)（近紅外區(qū)）
■ 光度測(cè)量重復(fù)性：1% (450nm-1800nm)
■ 測(cè)試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時(shí)測(cè)試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
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